Elektronenstrahlmikroanalyse (EMA), das Rasterelektronenmikroskop (REM) und das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) sind heute Standarduntersuchungsmethoden der Gesteinskundler (Petrograpen) und Werkstoffkundler mit denen Bilder und Analysen im Mikrometerbereich gemacht werden können.
Mit dem Transmissionselektronenmikroskop können Kristallographen durch Beugung des Elektronenstrahls am Kristallgitter auf die Atomstruktur von Kristallen schließen.
Die Elektronenmikrostrahlanalyse(EMA) beruht darauf, daß durch hoch beschleunigte Elektronen des Elektronenstrahls Elektronen aus den inneren Atomschalen des Atoms auf ein höheres Energieniveau angehoben werden. Beim Zurückspringen auf die innere Elektronenbahn wird die Energiedifferenz als hochenergetische Charakteristische Röntgenstrahlung abgestrahlt und gemessen. Aus der Intensität diser emittierten Strahlung können chemische Punktanalysen im Mikrometerbereich errechnet werden.
Mit dem Rasterelektronenmikroskop kann durch den außerordentlichen feinen Eletronenstrahl die Oberfläche extrem feiner Strukturen abgetastet werden, die mikroskopisch nicht mehr zu erfassen sind. In Vitrine 3 sind Elekronenmikroskopaufnahmen von Zeolith A zu bewundern. In der Außenvitrine links vom Eingang sind phantastische Aufnahmen von Mikrofossilienskeletten ausgestellt.

Mikrosonde(EMA) der Firma Jeol im IfG der CAU zu Kiel	Zeolith-Pulver mit REM-Aufnahme

Weiter in diesem Kapitel

Zurück zum Menue für dieses Kapitel